Tao B.W., Lu X.Y., Zeng C., Chen R., Zhao R.P., He G.Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, fabrication, MOCVD process, pulsed operation, double-side structures, substrate LaAlO3, thickness dependence, distribution, critical current density, template layers, X-ray diffraction
Physica C, 2020, v.570, N 3, p.1353604
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.