Goyal A., Specht E.D., Cantoni C., Haugan T.J., Wong-Ng W., Maroni V., Wee S.H., Zuev Y.L., Liu G.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, stacking fault, pinning, critical caracteristics, critical current density, coated conductors, IBAD process, texture, microstructure, Raman spectroscopy, angular dependence, experimental results
Physical Review B, 2011, v.83, N 22, p.224520
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.