Porokhov N.V., Chukharkin M.L., Maresov A.G., Snigirev O.V., Levin E.E., Kalaboukhov A.S., Zenova E.V.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, PLD process, substrate single crystal, buffer layers, magnetron sputtering, X-ray diffraction, phase composition, microstructure, current-voltage characteristics, temperature dependence, resistive transition, magnetic field dependence, activation energies, critical caracteristics, critical current, flux flow, upper critical fields, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.