Ключевые слова: FeSe, tapes, fabrication, PIT process, X-ray diffraction, microstructure, critical caracteristics, current-voltage characteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.