Ключевые слова: LTS, NbN, thin films, tivity, multilayered structures, screen printing, resistance, electronics
Ключевые слова: NbN, films, overheating, critical current, pulsed operation, temperature dependence, overheating, measurement technique
Ключевые слова: LTS, NbN, NbTi, films, design parameters, measurement technique, microwave devices, penetration depth, temperature dependence
Ключевые слова: LTS, Nb, NbN, thin films, coils spiral, actuators, cryogenic systems
Zhao Q., Iqbal S., Kozorezov A.G., Baghdadi R., Allmaras J.P*2., Butters B.A., Dane A.E., McCaughan A.N., Toomey E.A., Berggren K.K.
Ключевые слова: measurement technique, switches, switching process, heater, thin films, LTS, NbN
Ключевые слова: NbN, LTS, thin films, ion irradiation, oxygen, measurement technique, thickness dependence, microstructure
Suzuki Y., Kumagai S., Zhou S., Sato R., Watanabe H., Hsu C., Sasaki M., Adachi K., Sugimoto N., Iguchi N., Hioki T., Ichiki A., Motohiro T., Noh J., Sakurahara Y., Okabe K., Takai O., Honma H., Sakoda H., Sasagawa H., Doy H., Hori H., Nishikawa S., Nozaki T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate NbN/Si, buffer layers, co-evaporation process, fabrication, texture, microstructure, critical current, critical caracteristics
Nishida A.(nishida@cis.fukuoka-u.ac.jp), Taka C., Chromik S., Durny R.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.