Murakami M., Sakai N., Oka T., Jirsa M., Muralidhar M., Rao M.S., TAKEMURA K., Sunsanee P., Srikanth A.S.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, MOCVD process, substrate Hastelloy, IBAD process, YDyBCO, YEuBCO, YGdBCO, YSmBCO, GdEuBCO, GdSmBCO, critical caracteristics, critical current density, critical temperature, angular dependence, temperature dependence, magnetic field dependence, microstructure, X-ray diffraction, experimental results, substitution
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.