Palchaev D.K., Murlieva Z.K., Alikhanov N.M., Emirov R.M., Gadzhimagomedov S.H., Rabadanov M.K., Sadykov S.A., Khamidov M.M., Hashafa A.D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, nanoscaled effects, nanodoping, doping effect, fabrication, microstructure, X-ray diffraction, resistive transition, resistivity, temperature dependence, bulk
Palchaev D.K., Murlieva Z.K., Rabadanov M.H., Gadzhimagomedov S.K., Alikhanov N.M., Emirov R.M., Asvarov A.S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, nanoscaled effects, fabrication, bulk, microstructure, resistive transition, resistivity, temperature dependence, dielectric properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.