Yang W., Chen K., Xi X., Cunnane D., Karasik B.S., Kasaei L., Feldman L.C.
Ключевые слова: temperature dependence, critical current density, MgB2, films epitaxial, substrate SiC, HPCVD process, fabrication, thickness dependence, microstructure, resistance
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2023, v.33, N 5-3, p.7500304
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.