Goto T., Watanabe K., Sato E.(goto.tomoko@nitech.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, filaments, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Izumi T., Shiohara Y., Hayashi A.(hayashi@ceram.rd.pref.gifu.jp), Kurachi K., Seiki S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, rods, fabrication, current leads, critical current, microstructure, mechanical properties, critical caracteristics
Nishijima G., Watanabe K., Goto T.(goto.tomoko@nitech.ac.jp), Orita H.
Ключевые слова: HTS, filaments, fabrication, Jc/B curves, mechanical properties, critical caracteristics
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Civale L.(lcivale@lanl.gov)
Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Okamoto H., Inoue A., Hoshi S., Kai M.(kai@istec.or.jp), Koyama S., Otsuka M.
Tsukamoto O., Ogawa J.(jun@tsukalab.dnj.ynu.ac.jp), Nakayama H., Odaka S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, protection layer Ag, ac losses, experimental results
Hayashi K., Yasuda K., Ohmatsu K., Konishi M.(konishi-masaya@sei.co.jp), Hahakura S.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, PLD process, current-voltage characteristics, fabrication, FCL resistive, power equipment, critical caracteristics
Guo S.Q., Liu M.L., Gu C., Han Z., Collings E.W., Xin Y., Luo X.M., Chen D.X., Lee E., Sumption M.D., Fang J.G., Yi H.P., Fang J.(fangjin@tsinghua.edu.cn), Alamgir A.K.M.
Arendt P.N.(arendt@lanl.gov), Foltyn S.R., Civale L., DePaula R.F., Dowden P.C., Groves J.R., Holesinger T.G., Jia Q.X., Kreiskott S., Stan L., Usov I., Wang H., Coulter J.Y.
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Iwai H., Muroga T.(muroga@istec.or.jp), Sugawara Y., Hirayama T., Miyata S., Sasaki H.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Muroga T., Shiohara Y., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp)
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S.(miyata@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, long conductors, reel-to-reel process, substrate Ni alloy, substrate stainless steel
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Itoh M.(m-ito@ees.nagoya-u.ac.jp), Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate single crystal, PLD process, critical current density, fabrication, critical caracteristics, LTG process
Watanabe T., Mimura M., Ohashi Y., Maeda T.(maeda.toshihiko@furukawa.co.jp), Nagasu Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-V, substrate Ni-W, mechanical properties, microstructure
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni, texture, electrodeposition
Ji B.K., Lim J.H., Nah W., Kim K.T., Kim J.H., Hong G.-W., Kim C.-J., Jun B.-H., Joo J.(jinho@skku.ac.kr)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, substrate Ni, texture, grain alignment, fabrication, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.