Wang Y., Jia Z., Wu K., Cai C., Zhao S., Zeng Z., Xiao S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, etching, argon, ion irradiation, microstructure, roughness, X-ray diffraction, strain effects, Raman spectroscopy, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force, experimental results
J Low Temperature Physics, 2023, v.210, N 3-4, p.484-497
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.