Paranthaman M.P., Tomsic M., Rindfleisch M., Sefat A.S., Mitchell J.E., Hillesheim D.A., Bridges C.A., Gofryk K.
Ferdeghini C., Holzapfel B., Braccini V., Tarantini C., Putti M., Sarnelli E., Reich E., Bellingeri E., Sala A., Kawale S., Buzio R., Gerbi A., Adamo M.
Ключевые слова: chalcogenide, thin films, PLD process, substrate LaAlO3, substrate SrTiO3, substrate single crystal, substrates, critical temperature, fabrication, microstructure, lattice parameter, critical caracteristics, Jc/B curves, anisotropy, comparison, YBCO, grain boundaries, resistive transition, magnetic field dependence, upper critical fields, high field magnets
Ключевые слова: chalcogenide, coated conductors, PLD process, substrate stainless steel, microstructure, resistive transition, magnetic field dependence, magnetization, critical caracteristics, Jc/B curves, upper critical fields, irreversibility line, current-voltage characteristics, fabrication, experimental results
Ключевые слова: chalcogenide, tapes, PIT process, fabrication, microstructure, X-ray diffraction, magnetization
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.