Kim C.-J.(cjkim2@kaeri.re.kr), Jun B.-H., Choi J.-K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, template layers, buffer layers, RABITS process, IBAD process, comparison, fabrication, critical current, critical caracteristics
Ichino Y., Takai Y., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Horii S.(tholy@mail.ecc.u-tokyo.ac.jp)
Obst B., Goldacker W., Liu B., Schlachter S.I.(sonja.schlachter@itp.fzk.de), Frank A., Ringsdorf B., Orschulko H.
Ключевые слова: HTS, wires, bulk, ac losses, measurement technique, comparison, YBCO
Osorio M.R., Veira J.A., Toimil P., Ferro G., Vidal F.(fmvidal@usc.es), Fernandez J.A.(wmblofej@lg.ehu.es), Blanch M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, Bi2223, bulk, rings, FCL inductive, comparison, impedance, experimental results, power equipment
Verebelyi D.T., Gouge M.J., Lue J.W., Demko J.A., Thieme C.L.H., Duckworth R.C., Caughman J., Tolbert J.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, cables, substrate Ni-W, ac losses, inductance, YBCO, coated conductors, comparison, experimental results, numerical analysis, power equipment
Kreiskott S., Polak M., Demencik E., Krempasky L., Wehler D., Moenter B.(moenter@uni-wuppertal.de), Polyanskii A., Larbalestier D.C.(larbales@cae.wisc.edu)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.