Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, fluorine process, fabrication, microstructure
Arendt P.N., Foltyn S.R., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Holesinger T.G., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Kang S., Feenstra R., Budai J.D.
Watanabe T., Maeda T., Mimura M., Ohashi Y., Hirabayashi I.(hirazum@istec.or.jp)
Selvamanickam V., Hatzistergos M.S., Efstathiadis H.(hefstathiadis@uamail.albany.edu), Lifshin E., Kaloyeros A.E., Reeves J.L., Allen L.P.(lallen@epion.com), MacCrimmon R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate SrTiO3, MOCVD process, microstructure, critical current density, critical caracteristics, fabrication
Kreiskott S., Gibbons B.J., Bronisz L., Peterson D., Matias V.(vlado@lanl.gov), Findikoglu A.T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, PLD process, reel-to-reel process, fabrication, review
Li Y., Qiao Y., Reeves J., Lenseth K., Selvamanickam V., Lee H.-., Xie Y.Y., Carota G., Funk M., Zdun K., Xie J., Likes K., Jones M., Hope L., Hazelton D.W.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, substrate Ni, IBAD process, PLD process, MOCVD process, fabrication
Ключевые слова: HTS, Bi2212, coated conductors, PIT process, YBCO, economic analysis, review, fabrication
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Iijima Y., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Watanabe T., Maeda T., Honjo T., Yamada Y., Saito T., Hirabayashi I., Takahashi Y.*(k920112@sntl.swcc.co.jp))
Freyhardt H.C., Eickemeyer J., Donet S., Weiss F.(Francois.Weiss@inpg.fr), Chaudouet P., Beauquis S., Abrutis A., Usokin A.(usokin@umpsun1.gwdg.de), Selbmann D., Jimenez C.(jimenez@jipelec.com), Bruzek C.E.(Christian_Eric.Bruzek@nexans.com), Saugrain J.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, reel-to-reel process, substrate Ni, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Osamura K., Ono T., Hirabayashi I., Matsumoto K., Takechi A.(takechi@kumax.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, SOE process, cap layers, PLD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Ji B.K., Jung C., Park S., Jun B., Hong G., Park H., Kim C., Sun J. ex-sun@kaeri.re.kr), Kim H.S.(hskim@cnu.ac.kr)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, SOE process, MOCVD process, microstructure, fabrication
Wozniak U., Linker G.(Gerhard.Linker@ifp.fzk.de), Geerk J.(Jochen.Greek@ifp.fzk.de)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, substrate Ni, substrate Ni-Cr, SOE process, magnetron sputtering, microstructure, fabrication
Osamura K., Matsumoto K., Takechi A.(takechi@sd6.so-net.ne.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, buffer layers, substrate SrTiO3, PLD process, critical current density, fabrication, critical caracteristics
De Winter G.(griet.dewinter@rug.ac.be), Mahieu S.(stijin.mahieu@rug.ac.be), De Roeck I.(ilse.deroek@rug.ac.be), De Gryse R.(roger.degryse@rug.ac.be), Denul J.(jurgen.denul@bekaert.com)
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, HTS, REBCO, magnetron sputtering, microstructure
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, substrate Ni, MOCVD process, microstructure, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.