Kreiskott S., Arendt P.N., Foltyn S.R.(sfoltyn@lanl.gov), Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Dowden P.C.
Yoshino H.(hisashi.yoshino@toshiba.co.jp), Yamazaki M., Thanh T.D.
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Honjo T.(honjo@istec.or.jp), Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Shibata J., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp)
Otabe E.S., Matsushita T., Kuga T., Inoue M., Kiss T., Iijima Y., Kakimoto K., Saitoh T., Yamauchi K.(yamauchi@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Kiuchi M.
Thieme C.L., Goyal A., Verebelyi D.T., Cheggour N.(cheggour@boulder.nist.gov), Ekin J.W., Clickner C.C., Feenstra R.
Isfort D., Tournier R., Chaud X.(chaud@grenoble.cnrs.fr), Kapelski G.
Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Onabe K.(onabe@rd.fujikura.co.jp), Doi T.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp)
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T.(t-nabe&istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, coated conductors, substrates, buffer layers, fabrication, IBAD process, PLD process, critical current density, review, critical caracteristics
Arendt P.N., Foltyn S.R., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Holesinger T.G., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Kang S., Feenstra R., Budai J.D.
Watanabe T., Maeda T., Mimura M., Ohashi Y., Hirabayashi I.(hirazum@istec.or.jp)
Selvamanickam V., Hatzistergos M.S., Efstathiadis H.(hefstathiadis@uamail.albany.edu), Lifshin E., Kaloyeros A.E., Reeves J.L., Allen L.P.(lallen@epion.com), MacCrimmon R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate SrTiO3, MOCVD process, microstructure, critical current density, critical caracteristics, fabrication
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Iijima Y., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Watanabe T., Maeda T., Honjo T., Yamada Y., Saito T., Hirabayashi I., Takahashi Y.*(k920112@sntl.swcc.co.jp))
Freyhardt H.C., Eickemeyer J., Donet S., Weiss F.(Francois.Weiss@inpg.fr), Chaudouet P., Beauquis S., Abrutis A., Usokin A.(usokin@umpsun1.gwdg.de), Selbmann D., Jimenez C.(jimenez@jipelec.com), Bruzek C.E.(Christian_Eric.Bruzek@nexans.com), Saugrain J.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, reel-to-reel process, substrate Ni, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.