Hayashi K., Yasuda K., Ohmatsu K., Konishi M.(konishi-masaya@sei.co.jp), Hahakura S.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, PLD process, current-voltage characteristics, fabrication, FCL resistive, power equipment, critical caracteristics
Togano K., Kumakura H., Matsumoto A., Ma Y.(mayanwei@yahoo.com), Takeya H.
Ключевые слова: MgB2/Fe, PIT process, fabrication, microstructure, Jc/B curves, critical caracteristics
Kreiskott S., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Dowden P.C., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Civale L., Arendt P.N.(arendt@lanl.gov), Usov I.
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Iwai H., Muroga T.(muroga@istec.or.jp), Sugawara Y., Hirayama T., Miyata S., Sasaki H.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Muroga T., Shiohara Y., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp)
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S.(miyata@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, long conductors, reel-to-reel process, substrate Ni alloy, substrate stainless steel
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Itoh M.(m-ito@ees.nagoya-u.ac.jp), Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate single crystal, PLD process, critical current density, fabrication, critical caracteristics, LTG process
Ji B.K., Lim J.H., Nah W., Kim K.T., Kim J.H., Hong G.-W., Kim C.-J., Jun B.-H., Joo J.(jinho@skku.ac.kr)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, substrate Ni, texture, grain alignment, fabrication, microstructure
Izumi T., Izumi T., Shiohara Y., Maeda T., Hasegawa K.(khasegawa@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni, oxygenation treatments, grain boundaries, grain alignment, fabrication, microstructure
Venkataraman K., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Lynch J., Scudiere J., Verebelyi D.T., Holesinger T.G., Rupich M.W.(mrupich@amsuper.com), Teplitsky M., Maroni V., Miller D.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, RABITS process, MOD process, YBCO, substrate Ni-W, fabrication, microstructure, critical current density, review, critical caracteristics
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Manabe T.(manabe.t@aist.go.jp), Sohma M., Yamaguchi I., Kondo W., Tsukada K., Mizuta S., Kumagai T.
Shiohara Y., Takahashi Y.(k920112@snt1.swcc.co.jp), Aoki Y., Hasegawa T., Maeda T., Honjo T., Yamada Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, substrate Ni, buffer layers, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Toyota K., Nigo M.
Ayai N., Hayashi K., Sato K., Kato T.(kato-takeshi@sei.co.jp), Kobayashi S., Yamazaki K., Ohkura K., Ueyama M., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.