Petrisor T., Ciontea L., Galluzzi V., Mancini A., Rufoloni A., Vannozzi A., Celentano G., Rizzo F., Augieri A., Armenio A.A., Sotgiu G., Mos R.B., Nasui M., Pinto V., Piperno L., Gabor M.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, substrate Hastelloy, buffer layers, planarization, MOD process, roughness, YBCO, PLD process, laminations
Ключевые слова: HTS, YBCO, pinning centers artificial, IBAD process, pinning, PLD process, X-ray diffraction, lattice parameter, composition, microstructure, roughness, magnetization, pinning force, critical current, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, magnetic field dependence, substrate SrTiO3, comparison, substrate Hastelloy, nanodots, nanorods, nanoscaled effects, experimental results
Ключевые слова: MgB2, films, annealing process, roughness, porosity, microstructure, fabrication, resistive transition, critical caracteristics, Jc/B curves
Ключевые слова: ITER, LTS, Nb3Sn, cable-in-conduit conductor, design parameters, prototype, cycling, SULTAN, strands, surface, roughness, twist-pitch, microstructure, test results
Ключевые слова: HTS, YBCO, single crystals, surface, roughness, magnetic field distribution, Meissner effect, experimental results, numerical analysis
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.