Pudasaini U., Eremeev G.V., Reece C.E., Sayeed M.N., Elsayed-Ali H.E.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, thin films, magnetron sputtering, substrate metallic, microstructure, fabrication, X-ray diffraction, resistive transition, resistivity, temperature dependence, critical temperature
Thin Solid Films, 2022, v.763, N , p.139569
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.