Kaul A.R., Samoilenkov S.V., Markelov A.V., Amelichev V.A., Dosovitsky G.A., Kamenev A.A., Mankevich A.S., Blednov A.V., Ibragimov S.A., Kuchaev A.I., Vavilov A.P.
Larbalestier D.C., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U.P., Viouchkov Y., DALBAN-CANASSY M., Myers D.A.
Ferdeghini C., Polyanskii A., Braccini V., Putti M., Palenzona A., Pallecchi I., Bernini C., Kametani F., Romano G., Tropeano M., Martinelli A., Lamura G., Cimberle M.R., Fittipaldi R., Vecchione A., Sala A.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, bulk, doping effect, diffusion process, resistive transition, critical caracteristics, current-voltage characteristics, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, ac losses, TFA-MOD process, laminations, IBAD process, substrate Hastelloy, fabrication, tensile tests, mechanical properties, critical current, homogeneity, critical current, current-voltage characteristics, experimental results, annealing process, length
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, YBCO, coated conductors, comparison, cables, model small-scale, MgB2, termination, current leads, helium, critical current, current-voltage characteristics, stability, bus bar conductor
Ключевые слова: power equipment, short circuit test, HTS, Bi2212, bulk, coils, FCL resistive, modular system, numerical analysis, comparison, current waveforms, voltage waveforms
Izumi T., Shiohara Y., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M., Kato T., Yoshizumi M., Tanabe K., Tobita H., Nagamizu H., Yokoe D.
Porcar L., Bruzek C.E., Soubeyroux J.L., Decroux M., Chaudouet P., Odier P., Jimenez C., Petit S., Sarigiannidou E., Rapenne L., Robaut F., Garaudee S.
Amemiya N., Saitoh T., Mukoyama S., Yagi M., Masuda T., Ishiyama A., Ohkuma T., Hayakawa N., Ohya M., Maruyama O., Aoki N.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.