Iijima Y., Awaji S., Kiss T., Kakimoto K., Fujita S., Igarashi M., Adachi Y., Naoe K., Yoshida T., Okada T., Muto S., Hirata W.
Ключевые слова: HTS, EuBCO, coated conductors, long conductors, PLD process, IBAD process, doping effect, pinning centers artificial, fabrication, critical caracteristics, critical current, angular dependence, thickness dependence, temperature dependence, pinning force, magnetic field dependence, microstructure, homogeneity, experimental results, length
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.