Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Leonard K.J., Thompson J.R., Xiong X., Selvamanickam V., Wee S.H., Zuev Y.L., Polat O., Sinclair J.W., Ertugrul M.
Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Chen Z., Aytug T., Paranthaman M.P., Zuev Y., Kropf A.J., Zaluzec N.J.
Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Cantoni C., Zhang Y., Zuev Y., Kropf A.J., Chen Z.*21, Zaluzec N.
Christen D.K., Thompson J.R., Cook S.W., Selvamanickam V., Chen Y., Kumar D., Zuev Y.L., Polat O., Sinclair J.W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, composites, coated conductors, substrate Hastelloy, IBAD process, critical caracteristics, current-voltage characteristics, thickness dependence, pinning, Jc/B curves, irreversibility fields, magnetic properties, critical current density, angular dependence, temperature dependence, time evolution, flux creep, n-value, experimental results
Christen D.K., Larbalestier D.C., Selvamanickam V., Gurevich A., Tarantini C., Chen Y., Kametani F., Zuev Y.L., Jaroszynski J.
Christen D.K., Thompson J.R., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L., Sinclair J.W.
Maroni V.A., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Kim K., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, pinning, PLD process, substrate SrTiO3, films, cap layers, nanoscaled effects, phase formation, phase separation, fabrication, microstructure, size effect, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, experimental results
Goyal A., Cantoni C., Xie Y., Civale L., Zhang Y., Zhang Y., Selvamanickam V., Carota G., Chen Y., Zuev Y., Dackow J., Guevara A., Kesgin I., Coulter J.
Maroni V.A., Goyal A., Paranthaman M., Aytug T., Heatherly L., Kim K., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, IBAD process, fabrication
Goyal A., Paranthaman M., Lee D., Aytug T., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y., Specht E.
Goyal A., Specht E.D., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Thompson J.R., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L., Sinclair J.W.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, nanoscaled effects, pinning, ac losses, REBCO, PLD process, LTG process, fabrication, measurement technique, Hall sensor, presentation
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.