Ключевые слова: presentation, HTS, REBCO, coated conductors, fabrication, high rate process, growth rate, microstructure, pinning, defects, critical caracteristics, review
Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, tapes, coils pancake, insulationless, quench, modeling, design parameters, defects
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, tapes, strands, cable-in-conduit conductor, design, design parameters, fabrication, critical caracteristics, mechanical properties, transverse stress, cycling, defects, crack formation, measurement setup, current-voltage characteristics, microstructure, pressure dependence, transverse changes
Руднев И.А., Покровский С.В., Подливаев А.И., Абин Д.А., Стариковский А.С., Батулин Р.Г., Федин П.А., Прянишников К.Е., Кулевой Т.В.
Дегтяренко П.Н., Гаврилкин С.Ю., Цветков А.Ю., Овчаров А.В., Садаков А.В., Соболевский О.А., Дегтяренко А.Ю., Массалимов Б.И.
Ключевые слова: measurement technique, HTS, cables, RF Reflectometry, quench detection, defects, experimental results
Puig T., Obradors X., Gutierrez J., Ricart S., Vlad V.R., Soler L., Farjas J., Mocuta C., Chamorro N., Jareсo J., Banchewski J., Rasi S., Pacheco A., Gupta K., Saltarelli L., Garcia D., Queralto A., Kethamkuzhi A.
Li M., Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Knibbe R., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C.
Gomory F., Vogel M., Seiler E., Valizadeh R., Ries R., Malyshev O.B., Medvids A., Onufrijevs P., Pira C., Chyhyrynets E., Leith S.
Ключевые слова: LHC, luminosity, LTS, NbTi, magnets dipole, Nb3Sn, magnets quadrupole, design, design parameters, quench properties, defects, quality control, test results, status
Ключевые слова: defects, measurement technique, mechanical properties, strands, deformation, quality control, experimental results, LTS, wires, Nb3Sn, Rutherford cables, magnets, microstructure
Ключевые слова: HTS, tapes, pinning centers, defects columnar, critical current density, modeling, numerical analysis
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.