Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Shikimachi K.
Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Coulter J.Y., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Maley M.P., Civale L.(lcivale@lanl.gov)
Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Jaime M., Maley M.P.
Jiang Z., Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Amemiya N.(ame@rain.dnj.ynu.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, substrate Hastelloy, ac losses, experimental results, fabrication
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, IBAD process, PLD process, substrate Hastelloy, reel-to-reel process, fabrication, status
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Iwai H.(iwai@istec.or.jp), Miyata S.
Ma B., Welp U., Gray K.E., Uprety K.K., Veal B.W., Claus H.(claus@anl.gov), Paulikas A.P., Vlasko-Vlasov V.K.
Yasuda K., Muranaka K., Fujino K., Ohmatsu K.(ohmatsu-kazuya@sei.co.jp), Konishi M.
Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, Jc/B curves, ac losses, review, critical caracteristics
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, IBAD process, substrate Hastelloy, critical current, fabrication, critical caracteristics
Muroga T., Nagaya S., Watanabe T., Yamada Y., Saito T., Onabe K., Niwa T., Miyata S., Kashima N.(kashima.naoji@chuden.co.jp)
Arendt P.N.(arendt@lanl.gov), Foltyn S.R., Civale L., DePaula R.F., Dowden P.C., Groves J.R., Holesinger T.G., Jia Q.X., Kreiskott S., Stan L., Usov I., Wang H., Coulter J.Y.
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Iwai H., Muroga T.(muroga@istec.or.jp), Sugawara Y., Hirayama T., Miyata S., Sasaki H.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.