Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, MOD process, seed layers, RABITS process, texture, microstructure, fabrication
Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Matsuda J., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, PLD process, YBCO, TFA-MOD process, IBAD process, surface, nanoscaled roughness, fabrication
Yoshida Y., Awaji S., Watanabe K., Teranishi R., Matsumoto K., Horii S., Watanabe M., Mukaida M., Ichinose A., Fujiyoshi T., Sueyoshi T., Haruta M., Yonekura K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, YBCO, nanorods, pinning, PLD process, anisotropy, Jc/B curves, current-voltage characteristics, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Yajima A., Yoshinaka A., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, doping effect, TFA-MOD process, microstructure, fabrication
Ключевые слова: cooling technology, HTS, YBCO, coated conductors, FCL resistive, quench, test results, nitrogen solid, recovery characteristics, power equipment
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Tanaka T., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, microstructure, fabrication
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, composition, microstructure, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, buffer layers, substrate single crystal, MOD process, fluorine-free process, films epitaxial, microstructure, fabrication
Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sakai N., Sutoh Y., Miyata S., Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Kato J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, phase formation, thickness dependence, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.