Xiong X., Qiao Y., Selvamanickam V., Xie Y.Y., Hazelton D.W., Reeves J.L., Chen Y., Zhang X., Tekletsadik K., Lenseth K.P., Schmidt R.M., Rar A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, MOCVD process, long conductors, coils pancake, FCL resistive, review, power equipment, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate stainless steel, coated conductors, long conductors, fabrication, IBAD process, PLD process, review, length
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, RABITS process, substrate Ni-Ag, PLD process, fabrication, Jc/B curves, aspect ratios, critical caracteristics
Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Li Y., Civale L., Maiorov B., Hawley M., Lin Y., Wetteland C., Brown G.W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate SrTiO3, microstructure, thickness dependence, plans
Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, n-value, YBCO, numerical analysis, experimental results
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, fluorine process, fabrication, phase formation, Raman spectroscopy, measurement technique
Hanisch J., Matias V., Coulter J.Y., Gibbons B.J., Peterson D., Steenwelle R.J., Dowden P., Rowley J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, reel-to-reel process, texture
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, joints, joint resistances, current-voltage characteristics, Bi2223, tapes, comparison, experimental results, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, contact characteristics, protection layer Ag, numerical analysis
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Huang Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, substrate SrTiO3, PLD process, fabrication, Jc/B curves, angular dependence, defects, pinning, experimental results, critical caracteristics
Takahashi K., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Kuriki R., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H.
Li Y., Xiong X., Qiao Y., Selvamanickam V., Reeves J.L., Chen Y., Xie Y.-Y., Lenseth K.P., Schmidt R.M., Rar A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, IBAD process, buffer layers, films epitaxial, high rate process, fabrication, length
Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Verebelyi D.T., Aized D., Huang Y., King C., Carter W., Schreiber J., Prasova M., Tucker D., Harnois R.
Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Ibi A., Mori M., Suda N.
Goldacker W., Schlachter S.I., Heller R., Schmidt C., Frank A., Ringsdorf B., Weiss K.-P., Schuller S.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.