Ключевые слова: FCL resistive, matrix, shunt, coils, current limiting characteristics, experimental results, HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, power equipment
Ключевые слова: HTS, FCL inductive, YBCO, films, recovery characteristics, quench properties, experimental results, power equipment
Sohma M., Yamaguchi I., Tsukada K., Kumagai T., Koyanagi K., Manabe T., Tsuchiya T., Ebisawa T., Ohtsu H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate sapphire, buffer layers, fabrication, critical current density, critical caracteristics, MOD process, laser application
Yoshida Y., Teranishi R., Matsumoto K., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Kato S., Kita R., Shingai Y., Yamada K., Mori N., Takamura M.
Yoshida Y., Awaji S., Teranishi R., Matsumoto K., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Kita R., Shingai Y., Yamada K., Mori N., Numasawa T., Watanabe K.*2 Saito A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, buffer layers, films, substrate sapphire, magnetron sputtering, fabrication, microstructure
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Horii S., Kishio K., Mukaida M., Ichinose A., Shimoyama J., Ozaki T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate SrTiO3, doping effect, PLD process, angular dependence, Jc/B curves, fabrication, microstructure, critical caracteristics
Pan V.M.(pan@imp.kiev.ua)
Yoshida Y., Matsumoto K., Horii S., Horide T., Mukaida M., Ichinose A., Mele P.(pmele@htsc.mbox.media.kyoto-u.ac.jp), Miura O.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, current-voltage characteristics, experimental results, critical caracteristics
Yoo S.I., Jo W.(wmjo@ewha.ac.kr), Wee S.H., Bae J.S., Yang I.-S.(yang@ewha.ac.kr)
Ключевые слова: HTS, films, substrate SrTiO3, PLD process, fabrication, oxygenation treatments, critical current density, critical caracteristics
Kursumovic A., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Civale L., Maiorov B., Peterson D.E., Foltyn S., Durrell J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, YBCO, films, substrate SrTiO3, pinning force, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics
Ключевые слова: patents, HTS, coated conductors, IBAD process, texture, films, fabrication, buffer layers, amorphous state
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.