Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Ibi A., Yoshizumi M., Fukushima H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, fabrication, single-domain, seeding technique, disks, microstructure, critical caracteristics, current-voltage characteristics, levitation performance, new
Tixador P., Chaud X., Porcar L., Soubeyroux J.L., Chaudouet P., Odier P., Allais A., Morlens S., Jimenez C., Ortega L., Millon C., Pairis S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate cylindrical, substrate Ni-W, RABITS process, buffer layers, MOD process, YBCO, MOCVD process, microstructure, resistive transition, fabrication, new
Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, texture, substrate Ni-W, multilayered structures, substrate Hastelloy, comparison, ac losses, mechanical properties, buffer layers, magnetron sputtering, REBCO, PLD process, stabilizing layers, protection layer Cu, critical caracteristics, critical current, thickness dependence, microstructure, homogeneity, long conductors, experimental results
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, fabrication, microstructure
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, nucleation, microstructure, grain structure
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Mukaida M., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, precursors, composition, critical caracteristics, critical current density, microstructure, fabrication
Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Mukaida M., Miura M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Mitani A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, TFA-MOD process, fabrication, substrate LaAlO3, growth rate, critical current density, critical caracteristics, microstructure
Yoshida Y., Nakamura T., Matsumoto K., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura O., Kita R., Kawabata K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, microstructure
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, doping effect, REBCO, substrate LaAlO3, fluorine-free process, MOD process, microstructure, critical caracteristics, critical current, composition, fabrication
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, buffer layers, high rate process, microstructure
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Kita R., Yamada K., Funaki S., Kai H., Mele P., Takamura M.
Yoshida Y., Teranishi R., Matsumoto K., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Yamada K., Mori N., Kai H., Yuki K.
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Harada T., Kita R., Ozaki T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, PLD process, fabrication, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, microstructure
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Harada T., Kita R., Ozaki T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate single crystal, PLD process, fabrication, defects columnar, pinning centers, microstructure
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Kita R., Ozaki T., Funaki S.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.