Holzapfel B., Schultz L., Goldacker W., Schlachter S.I., HaBler W., Nenkov K., Schubert M., Morawski A., Ringsdorf B., Herrmann M., Kario A.
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Yamada Y., Ibi A., Fukushima H., Fuger R., Namba M.
Ключевые слова: MgB2/Ti, wires, critical caracteristics, Jc/B curves, current-voltage characteristics, modeling, comparison, experimental results
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, MOD process, substrate LaAlO3, fabrication, microstructure, critical caracteristics, current-voltage characteristics
Tretiatchenko C.G., Pan V.M., Moskaliuk V.O., Svetchnikov V.L., Flis V.S., Kalenyuk A.A., Kasatkin A.L., Rebikov A.I.
Ключевые слова: LTS, NbTi, HTS, Bi2223, wires, modeling, quench propagation, numerical analysis, voltage distribution, current distribution, temperature distribution
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, PLD process, fabrication, texture, critical caracteristics, current-voltage characteristics
Nagaya S., Kashima N., Watanabe T., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M., Takahashi Y., Shikimachi K.
Malozemoff A.P., Fleshler S., Vysotsky V.S., Sytnikov V.E., Polyakova N.V., Carter W.L., Snitchler G., Fetisov S.S., Shutov K.A., Nosov A.A., Zubko V.V.
Izumi M., Ida T., Kimura Y., Miki M., Tsuzuki K., Felder B., Umemoto K., Aizawa K., Yokoyama M., Yuan S.
Honjo S., Masuda T., Watanabe M., Yumura H., Kitoh Y., Ashibe Y., Ohya M., Mimura T., Minamino T., Noguchi Y.
Izumi T., Shiohara Y., Funaki K., Iwakuma M., Yamada Y., Saito T., Nakao K., Kato J., Tanabe K., Yamasaki S., Chikumoto T.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.