Sokolovsky V., Meerovich V.
Ключевые слова: modeling, numerical analysis, thin films, films large-area, strips, spiral lines, critical caracteristics, current-voltage characteristics, single-domain, resistivity, thermal stability
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2019, v.29, N 1, p.8000209
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.