Zenobio A.D., Chiarelli S., Rufoloni A., Vannozzi A., Turtu S., Celentano G., Augieri A., Muzzi L., Marzi G.D., Corte A.D., Messina G., Bragagni A., Seri M., Anemona A., Marchetti M., Formichetti A., Masi A., Giannini L., Arabi M.
Ключевые слова: fusion magnets, Al, Cu-based conductors, cable-in-conduit conductor, HTS, REBCO, coated conductors, tapes, stacked blocks, twisting, design, mechanical properties, strain effects, distribution, bending radius, critical current, current-voltage characteristics, resistance, numerical analysis
Li Y., Selvamanickam V., Galstyan E., Chen S., Rey C.M., Schmidt R.M., Majkic G., Paidpilli M., Goel C., Yerraguravagari V., Jain R., Shyam V., Oad M., Carnes T.H.
Larbalestier D.C., Kvitkovic J., Parrell J.A., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U.P., Huang Y., Kametani F., Shen T., Barua S., Hossain S.I., Oloye T.A., Bugaris D.E., Goggin C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, tapes, interfaces, resistance, critical current, heat treatment, joints, solder, joint resistances
Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Koblischka M.R., Koblischka-Veneva A., Ishida S., Ogino H., Eisaki H., Naik S.P., Nishio T., Ishibashi S., Hagiwara R., Kawashima K.
Eisterer M., Hopkins S.C., Ballarino A., Baumgartner T., Bernardi J., Pfeiffer S., Stoger-Pollach M., Loffler S.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, fabrication, electrochemical process, precursors, nanowires, nanoscaled effects, X-ray diffraction, microstructure, lattice parameter, critical temperature, pinning force, critical current density, magnetization curves, hysteresis, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning mechanism
Schlachter S.I., Bagrets N., Branco M.B., Collier-Wright M., Dherbecourt D., Drechsler A., Duval J.-M., Erbe M., Fink S., Genswein K., Hindley D., Holzapfel B., Jung A., Kroll R., Betancourt M.L., Nast R., Diaz D.O., Prouve T., Ringsdorf B.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.