Murakami M., Hirabayashi I., Sakai N., Nariki S.(nariki@istec.or.jp), Fujikura M.
Murakami M., Awaji S., Watanabe K., Noto K., Muralidhar M., Sasaki H., Kikegawa T.S.(kikegawa@ichinoseki.ac.jp), Tada H., Kudo T., Kikuchi H., Konno K.
Puig T., Obradors X., Sandiumenge F., Mestres N., Coll M., Cavallaro A., Gazquez J., Gonzalez J.C., Pomar A.(apomar@icmab.es)
Kim H.-J., Kim C.-J., Jun B.-H.(bhjun@kaeri.re.kr), Choi J.-K.
Weiss F., Bruzek C.E., Vergnieres L.(laura.vergnieres@inpg.fr), Donet S.(sebastien.donet@inpg.fr), Jimenez C.(carmen.jimenez@inpg.fr), Odier P.(odier@grenoble.cnrs.fr), Saugrain J.M.(Jean_Maxime.Saugrain@nexans.com)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate CeO2/IBAD-YSZ/Ni alloy, MOCVD process, spray pyrolysis process, fabrication, microstructure
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp), Niwa T.(Niwa.Toshiharu@chuden.co.jp), Mori M.(Mori.Masami2@chuden.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductor modules, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, microstructure, texture, growth rate, fabrication
Joo J., Kim C.-J., Jun B.-H., Choi J.-K., Kim H.-J.(sep1040@skku.ac.kr)
Cherpak Y.V., Komashko V.A., Pozigun S.A., Semenov A.V., Tretiatchenko C.G., Pashitskii E.A., Pan V.M.
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Gray K.E., Reeves J., Vlasko-Vlasov V.K., Claus H., Trasobares S., Lei Y., Hiller J.M., Venkataraman K.(venkataraman@wisc.edu)
Specht E.D., Holesinger T.G., Christen D.K., List F.A., Gapud A.A., Feldmann D.M., Feenstra R.(feenstrar@ornl.gov)
Majoros M., Glowacki B.A., Campbell A.M., Barnes P.N., Levin G.A., Polak M.(milan.polak@savba.sk)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors multifilamentary, ac losses, RABITS process, bridges, experimental results, fabrication, striations
Osamura K.(kozo.osamura@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp), Wada N., Ogawa T., Nakao F.
Ключевые слова: HTS, tapes multifilamentary, barriers, ac losses, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, films large-area, substrate sapphire, buffer layers, MOD process, critical current, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, substrate sapphire, buffer layers, MOD process, microstructure, critical current density, critical caracteristics, fabrication
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C., Murugesan M., Bagarinao K.D.(kathy@ni.aist.go.jp)
Frolek L., Demencik E.(elekmedo@savba.sk)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.