Ferdeghini C., Holzapfel B., Braccini V., Tarantini C., Putti M., Sarnelli E., Reich E., Bellingeri E., Sala A., Kawale S., Buzio R., Gerbi A., Adamo M.
Ключевые слова: chalcogenide, thin films, PLD process, substrate LaAlO3, substrate SrTiO3, substrate single crystal, substrates, critical temperature, fabrication, microstructure, lattice parameter, critical caracteristics, Jc/B curves, anisotropy, comparison, YBCO, grain boundaries, resistive transition, magnetic field dependence, upper critical fields, high field magnets
Ключевые слова: chalcogenide, coated conductors, PLD process, substrate stainless steel, microstructure, resistive transition, magnetic field dependence, magnetization, critical caracteristics, Jc/B curves, upper critical fields, irreversibility line, current-voltage characteristics, fabrication, experimental results
Ключевые слова: chalcogenide, tapes, PIT process, fabrication, microstructure, X-ray diffraction, magnetization
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.