Tanaka S., Koshizuka N., Nakao K., Shimura S.(shimura@istec.or.jp), Machi T., Mochizuki K., Shibata N., Ushio K.
Ключевые слова: MgB2/Cu, wires, PIT process, MgB2, coatings, current-voltage characteristics, microstructure, Jc/B curves, coils, fabrication, power equipment, critical caracteristics
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Nigo M., Inoue D., Miyamoto N.
Sekine N., Miyagi D., Tsukamoto O.(osami@tsukalab.dnj.ynu.ac.jp), Utsunomiya A.
Murakami M., Hirabayashi I., Sakai N., Koshizuka N., Jirsa M., Muralidhar M.(miryalal@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, nanodoping, microstructure, pinning centers, measurement technique, fabrication, experimental results
Murakami M., Inoue K., Hirabayashi I., Hu A., Nariki S., Sakai N.(nsakai@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, levitation performance, fabrication
Eisterer M., Weber H.W., Iida K., Babu N.H., Haindl S., Cardwell D.A.(dc135@cam.ac.uk), Shi Y.- H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, composites, bulk, fabrication, nanodoping, pinning, trapped field, microstructure, magnetic properties
Murakami M., Hirabayashi I., Sakai N., Nariki S., Fujikura M.(m.fujikura@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, fabrication, precursors, sample shapes
Ekin J.W., Li Y., Xiong X., Qiao Y., Reeves J., Knoll A., Lenseth K., Iwasa Y., Civale L., Maiorov B., Suenaga M., Selvamanickam V., Cheggour N., Chen Y., Salagaj T., Weber C., Xie Y.-Y.(yxie@igc.com), Solovyov V., Clickner C., Hou P.
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Ibi A.(ibi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, texture, critical current, substrate Hastelloy, thickness dependence, fabrication, critical caracteristics
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Holzapfel B., Schultz L., Eckert J., HaBler W., Fischer C., Fuchs G., Perner O.(o.perner@ifw-dresden.de), Mickel C.
Yahya S.Y., Jumali M.H., Abd-Shukor R.(ras@pkrisc.cc.ukm.my), Lau K.T.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, nanodoping, PIT process, fabrication, critical current density, microstructure, critical caracteristics
Husek I., Dhalle M., Melisek T., Ouden A.D., Kovac P.(Pavol.Kovac@savba.sk)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, cap layers, texture, chemical solution deposition, reel-to-reel process, microstructure, fabrication, length
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, seeding technique, microstructure, fabrication, perforated sample structure
Aloysius R.P., Syamaprasad U.(syam@csrrltrd.ren.nic.in), Biju A.
Ключевые слова: HTS, density, critical current density, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Schmidt W., Han Z., Wang L., Chen S., Du P., Wang S.S.(wangsansheng@tsinghua.org.cn), Neumuller H.W.
Ключевые слова: MgB2, precursors, powder processing, microstructure, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.