Iijima Y., Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Iwai H., Hirayama T., Sutoh Y., Niwa T., Miyata S., Sasaki H., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y., Ibi A., Sasaki Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, reel-to-reel process, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, grain alignment, microstructure, fabrication
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Hirayama T., Sasaki Y., Sasaki H.(hisasaki@jfcc.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, CVD process, multistage process, fabrication, microstructure
Iijima Y., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Imamura K., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Tokutomi H., Shoyama T.
Tokunaga Y., Izumi T., Aoki Y., Hirabayashi I., Chikumoto N., Matsuda J., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, optical imaging, defects, experimental results, fabrication
Lee D.F., Cantoni C., Rutter N., Goyal A.(goyala@ornl.gov)
Tokunaga Y., Izumi T., Machi T., Chikumoto N.(chiku@istec.or.jp), Tajima S.
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Fujino K., Yamazaki K., Ohkura K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Kobayashi S.(kobayashi-shinichi@sei.co.jp)
Kumakura H., Jiang C.H.(jiang.chunhai@nims.go.jp)
Inada R., Oota A., Nakamura Y.(nakamura@eee.tut.ac.jp), Nakashima S., Saigo M.
Nakamura T., Murakami K.(b99t3064@maxwell.ele.tottori-u.ac.jp), Yasuike S., Tokuda T., Kishida S.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, films thick, substrate Ni, buffer layers, substrate Ag, chemical solution deposition, resistance, temperature dependence, fabrication
Fang J., Han Z., Liu Q., Song X.H., Liu L., Zhang J.S., Zheng Y.K., Yi H.P.(yhp01@mails.tsinghua.edu.cn), Kang W., Liu R.
Zhou L., Yan G., Zhang P.X., Sulpice A., Mossang E., Zhao Y., Feng Y.(yfeng@c-nin.com)
Ключевые слова: MgB2/Fe alloy, wires, PIT process, heat treatment, Jc/B curves, pinning force, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Yamamoto A.(tt36731@mail.ecc.u-tokyo.ac.jp), Ueda S., Katsura Y., Horii S., Kishio K., Shimoyama J., Iwayama I.
Ключевые слова: MgB2, bulk, sintering, critical current, microstructure, heat treatment, fabrication, critical caracteristics
Togano K., Nishijima G., Watanabe K., Kondo T.(konytaka@imr.tohokou.ac.jp), Badica P., Nakamori Y., Orimo S.
Ключевые слова: MgB2/Fe, MgB2, tapes, PIT process, precursors, phase composition, Jc/B curves, microstructure, fabrication, critical caracteristics
Kitaguchi H., Kumakura H., Matsumoto A., Nakane T.(NAKANE.Takayuki@nims.go.jp), Fujii H.
Ключевые слова: MgB2, tapes, PIT process, precursors, critical current density, microstructure, fabrication, critical caracteristics
Li C.S., Yan G., Feng Y., Sulpice A., Mossang E., Xu Z., Xu H.L.(xhlxhl@zzu.edu.cn), Wu Y.F., Chen Z.L.
Ключевые слова: HTS, wires, PIT process, sintering, temperature dependence, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: MgB2, nanodoping, wires, spin coating process, fabrication, Jc/B curves, microstructure, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.