Kiuchi M., Himeda Y., Sato K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Fujikami J.*2 Hayashi K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, overpressure processing, Jc/B curves, temperature dependence, angular dependence, n-value, irreversibility fields, current-voltage characteristics, magnetic field dependence, anisotropy, numerical analysis, experimental results, comparison, critical caracteristics, fabrication, magnetic properties
Malachevsky M.T.(malache@cab.cnea.gov.ar), Ovidio C.A.
Haken B., Lehtonen J., Dhalle M., Oomen M., Leghissa M., Nast R., Goldacker W., Hussennether V., Arndt T.J., Masti M.(mika.masti@tut.fi), Schmidt C., Bruzek C.-E., Allais A., Jorda J.-L., ten Kate H.
Husek I., Kovac P.(elekkova@savba.sk), Melisek T., Strbik V.
Abd-Shukor R.(ras@pkrisc.cc.ukm.my), Lau K.T.
Paranthaman M., Christen D.K., Cantoni C., Thompson J.R.(jrt@utk.edu), Sorge K.D., Kerchner H.R.
Holcomb M.J.(mholcomb@novewire.com)
Haken B., Kiuchi M., Itoh K., Goldacker W., Katagiri K., Noto K., Ochiai S., Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Haessler W., Otabe S., Shin H.S.*10, Sosnowski J.*11, Weijers H.*12, Wada H.*13, Kumakura K.
Flukiger R., Lezza P., Uglietti D., Abacherli V., Pollini A., Eckert D., Seeber B.(bernd.seeber@physics.unige.ch), Bovier P.-A., Kubler G.
Ключевые слова: measurement setup, critical current, strain effects, wires, tapes, LTS, Nb3Sn, HTS, Bi2223, n-value, experimental results, critical caracteristics, length
Schwartz J., Zhang G., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Sastry P.V.P.S.S., Knoll D.C.
Muroga T., Kiss T., Shiohara Y., Watanabe T., Watanabe T., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y., Yamada Y., Miyata S., Yamauchi K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A.
Lim J.H., Joo J., Sugano M., Park C., Nah W., Kumakura H., Matsumoto A., Kim J.H., Choi S., Kiyoshi T., Ha H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, Bi2223, tapes, Jc/B curves, n-value, anisotropy, experimental results, critical caracteristics
Kim K., Oh S., Ha D.-W., Shin H.(hsshin@andong.ac.kr), Dizon J.R.
Oh S.-S., Shin H.-S.(hsshin@andong.ac.kr), Ko R.-K., Kim K.-H., Dizon J.R.C., Kim T.-Y.
Muroga T., Shiohara Y., Kiuchi M., Yamada Y., Miyata S., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A., Kimura K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.