Taylor D.M., Hampshire D.P.(d.p.hampshire@dur.ac.uk)
Taylor D.M., Hampshire D.P.(d.p.hampshire@dur.ac.uk)
Nishijima G., Watanabe K., Katagiri K., Oguro H., Awaji S.(awaji@imr.tohoku.ac.jp), Harjo S., Kamiyama T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, stabilizing layers, substrate Hastelloy, IBAD process, MOCVD process, electroplating process, substrate Ni-W, RABITS process, MOD process, laminations, strain effects, critical current, critical current density, n-value, experimental results, critical caracteristics, fabrication, mechanical properties
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Shikimachi K.
Joo J., Sugano M., Nah W., Kumakura H., Matsumoto A., Kim J.H., Koizumi T., Choi S., Kiyoshi T., Ha D.-W., Ha H.-S.
Matsushita T., Kiuchi M., Himeda Y., Fujikami J., Hayashi K.(hayashi-kazuhiko@sei.co.jp)
Marken K.R., Hong S., Czabaj B., Meinesz M., Miao H.(hanping.miao@ost.oxinst.com)
Ogawa J., Fukui S., Umeda M., Yamaguchi M., Sato T., Toyoda M., Arai K., Tonsho H., Furuse M.*3 Tanaka H., Takao T.(takao@toshi.ee.sophia.ac.jp)
Ghosh A.K.(aghosh@bnl.gov)
Sytnikov V.E.(vsyt@podolsk.ru), Poliakova N.V., Vysotsky V.S.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, HTS, Bi2223, tapes, cables, critical current density, current distribution, n-value, review, power equipment, critical caracteristics, magnetic properties
Fabbricatore P., Musenich R., Greco M.(greco@ge.infn.it), Farinon S.
Spadoni M., Wang Y.N., Gislon P., Ciazynski D., Ciotti M.(ciotti@frascati.enea.it), Zani L., Libeyre P.
Bruzzone P.(bruzzone@psi.ch)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.