Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, defects, pinning, quench, microstructure, Jc/B curves, temperature dependence, pinning force, experimental results, critical caracteristics
Barnes P.N., Haugan T.J., Wu J.Z., Emergo R.L.(remergo@ku.edu)
Ключевые слова: FCL resistive, HTS, YBCO, films, FCL three-phase, current waveforms, voltage waveforms, test results, recovery characteristics, power equipment
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, current limiting characteristics, discharge characteristics, substrate sapphire, experimental results, meander
Rupich M.W., Thieme C., Li X., Kodenkandath T., Goyal A., Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Budai J.D., Cantoni C., Gapud A.A., Schoop U.(uschoop@amsuper.com), Kim K.(kyz@ornl.gov)
Ключевые слова: HTS, coated conductor modules, substrate Ni-W, buffer layers, MOD process, texture, microstructure, films epitaxial, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, buffer layers, RABITS process, substrate Ni-W, texture, films epitaxial, fabrication
Evetts J.E., Kursumovic A.(ak237@cus.cam.ac.uk), Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Civale L., Maiorov B.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, nanodoping, PLD process, microstructure, Jc/B curves, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Puig T., Obradors X., Sandiumenge F., Mestres N., Coll M., Cavallaro A., Gazquez J., Gonzalez J.C., Pomar A.(apomar@icmab.es)
Cherpak Y.V., Komashko V.A., Pozigun S.A., Semenov A.V., Tretiatchenko C.G., Pashitskii E.A., Pan V.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films large-area, substrate sapphire, buffer layers, MOD process, critical current, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, substrate sapphire, buffer layers, MOD process, microstructure, critical current density, critical caracteristics, fabrication
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C., Murugesan M., Bagarinao K.D.(kathy@ni.aist.go.jp)
Chikumoto N., Otsuka M., Tajima S., Oishi M.(m202104@sic.shibaura-it.ac.jp), Kato J.
Sueyoshi T.(tetsu@eecs.kumamoto-u.ac.jp), Inada S., Fujiyoshi T., Miyahara K., Ikegami T., Ebihara K., Miyagawa R., Chimi Y., Ishikawa N.
Jung J.(jung@phys.ualberta.ca.), Chow K.H., Egilmez M., Welsh A.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.